[实用新型]一种指针表集成电路测试装置无效
| 申请号： | 200920131116.3 | 申请日： | 2009-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN201417296Y | 公开（公告）日： | 2010-03-03 |
| 发明（设计）人： | 刘伟;王健 | 申请（专利权）人： | 深圳安博电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 指针 集成电路 测试 装置 | ||
1、一种指针表集成电路测试装置，其特征在于，所述装置包括：
用于装载被测集成电路的探针台；
对被测集成电路的电气参数进行采集的针卡；
根据所述针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；
分别与所述针卡和测试单元连接的选通模块，通过不同的通道选通，实现所述针卡与测试单元中不同测试模块的连接；
与所述测试单元连接，根据所述测试结果信号并输出控制信号的主控制模块；
显示测试结果的显示模块；
分别与所述主控制模块和显示模块连接的从控制模块，接收主控制模块输出的控制信号，控制所述显示模块显示；以及
分别与所述主控制模块和探针台连接的通讯模块，实现主控制模块和探针台之间的信号通讯。
2、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试单元包括：
根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出电流测试结果信号的电流测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块；以及
根据所述针卡采集的电气参数，输出功能测试结果信号的功能测试模块。
3、如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
分别与所述主控制模块和电脑连接的下载控制模块，所述主控制模块和从控制模块通过所述下载控制模块从电脑下载控制程序。
4、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主控制模块为AT89S52单片机。
5、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述从控制模块为AT89S52单片机。
6、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述显示模块为LCD显示模块。
7、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述选通模块为继电器阵列。
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