[实用新型]TFT-LCD阵列电路检测用探针框架有效
| 申请号： | 200920110463.8 | 申请日： | 2009-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN201549181U | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 田震寰;蔡金沐 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R1/073;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种TFT-LCD阵列电路检测用探针框架。该探针框架中设置有数个横梁和/或纵梁，所述横梁和/或纵梁上间隔设置有用于为待检测阵列基板提供检测信号的探针，所述探针的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离从所述横梁和/或纵梁的受力端的第一位置至远离所述受力端的第二位置逐渐递增。本实用新型提供的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，通过增长横梁和/或纵梁远离受力端位置处探针的悬空端到横梁和/或纵梁的垂直距离，弥补了横梁和/或纵梁的形变带来的该位置处接触空间变大的影响，克服了探针与待检测阵列基板接触不良的缺陷，提高了检测成功率和生产效率，并扩展了检测领域。 | ||
| 搜索关键词： | tft lcd 阵列 电路 检测 探针 框架 | ||
【主权项】：
一种TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述探针框架中设置有数个横梁和/或纵梁，所述横梁和/或纵梁上间隔设置有用于为待检测阵列基板提供检测信号的探针，所述探针的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离从所述横梁和/或纵梁的受力端的第一位置至远离所述受力端的第二位置逐渐递增。
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