[实用新型]TFT-LCD阵列电路检测用探针框架

权利要求书

1.一种TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述探针框架中设置有数个横梁和/或纵梁，所述横梁和/或纵梁上间隔设置有用于为待检测阵列基板提供检测信号的探针，所述探针的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离从所述横梁和/或纵梁的受力端的第一位置至远离所述受力端的第二位置逐渐递增。

2.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述横梁和/或纵梁上间隔设置有用于为待检测阵列基板提供检测信号的探针具体为：

所述横梁和/或纵梁上间隔设置有用于容置探针套件的数个探针孔，所述探针套件上设置有所述探针，所述探针套件为用于同时封装多个探针的组合件。

3.根据权利要求2所述的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述横梁和/或纵梁上的所述探针孔的深度从所述横梁和/或纵梁的受力端的第一位置至远离所述受力端的第二位置逐渐递减。

4.根据权利要求2所述的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述探针套件上设置有螺杆，所述螺杆位于所述探针的对端的顶部，所述螺杆上连接有可调旋钮，所述可调旋钮设置在所述探针孔上端部位并通过旋转带动所述螺杆和所述探针套件在所述探针孔内上下移动。

5.根据权利要求2所述的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述探针套件的外表面上设置有挂臂，所述探针套件从所述横梁和/或纵梁的侧面安装至所述横梁和/或纵梁的探针孔中，所述探针孔中用于容置所述探针套件上的信号输入端的探针孔卡口上设置有用于与所述信号输入端连接并提供检测信号的弹性卡片，所述探针孔中还包括用于容置所述挂臂进而固定所述探针套件的容置部。

6.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述探针的长度从所述横梁和/或纵梁的受力端的第一位置至远离所述受力端的第二位置逐渐递增。

7.根据权利要求1至6任一所述的TFT-LCD阵列电路检测用探针框架，其特征在于，所述探针的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离由以下公式计算得出，

Ln＝Lc-[(Lc-L0)/(a-1)]*(n-1)；

其中，Lc为标准安全值，即所述横梁和/或纵梁的第二位置上的探针组悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离，L0为位于所述横梁和/或纵梁的所述第一位置上的探针组的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离，n为从所述横梁和/或纵梁的第二位置到所述第一位置计数得到的需要设定探针悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离的探针组的编号，Ln为第n组探针的悬空端到所述横梁和/或纵梁的垂直距离，a为从所述横梁和/或纵梁的所述第二位置至所述第一位置计数得到的探针组总数。