[实用新型]测试治具

摘要

一种测试治具，提供一独立测试环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，该测试治具包括具有多个侧板的测试治具本体、以及测量器。其中，该测量器具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件的外接卡相面对的测量端，以在最接近该电子器件的外接卡的位置进行测量，从而有效提高测量准确度。另外，该测试治具本体的部分侧板设置有轨道，以因应不同规格的电子器件更换不同形式的侧板，从而有效提升对于不同规格电子器件的适应性。所以，本实用新型的测试治具能够有效克服现有技术中的种种缺陷而具有高度产业利用价值。

主权项

一种测试治具，提供独立环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，其特征在于，该测试治具包括：测试治具本体，具有底板、设在该底板周围的多个侧板、及设在该多个侧板上且与该底板相对的顶板，通过该底板、侧板及顶板的结合得以构成一测试环境，该底板具有穿设部，从而使该电子器件的外接卡得以进入该测试环境中，该多个侧板的一个具有入风口，且在该入风口的对向侧板上具有出风口，而该入风口至该出风口的方向定义为第一方向，该多个侧板的一个具有电线通口，供通过电线，从而使该电子器件的外接卡通过该电线与该电子器件电性连接；以及测量器，设在该测试治具本体上，并具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件的外接卡相面对的测量端，该测量端至该电子器件的外接卡的方向定义为垂直该第一方向的第二方向。