[实用新型]测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试治具，特别是涉及一种提供独立环境以对服务器等电子器件的外接卡进行运行测试的测试治具。

背景技术

由于电子产品日趋微型化及多功能化，连带使得功能强大的电子产品经常要经过多种测试以确保其性能达到最佳，因此各类测试治具在电子产品的研发及生产过程中尤不可缺；对每一种电子产品而言，均有一定的运行环境条件要求，因此，在研发阶段的测试中，即需对电子产品进行相对应的环境测试，例如：将需进行测试的电子产品置在所提供的测试治具中运行，通过该测试治具模拟该电子产品所需的测试条件，例如模拟温度、湿度或震动的测试条件，并使该测试条件能够维持一段时间，以便检测该电子产品是否符合安规要求。

所述的电子产品例如为服务器中的各式外接卡，若欲检测该电子产品是否符合要求，则必须提供一罩覆在该服务器上的测试治具，而在该测试治具内提供一适应该待检测的电子产品的测试环境，以便进行该电子产品的运行检测，进而判断该电子产品是否符合安规要求。然而，若该外接卡与该服务器运行的环境不同，则会发生因测试的进行而使该外接卡或该服务器无法正常运行的不利影响，甚至损坏该待测试的外接卡或该服务器。

举例而言，若该测试的外接卡为插设在服务器中的磁碟阵列卡(raid card)，且该磁碟阵列卡的允许工作温度范围为-10℃～60℃，而该插置磁碟阵列卡的服务器的允许工作温度范围为-5℃～40℃。此时，若该测试治具要对该磁碟阵列卡进行测试时，则需要提供温度范围为-10℃～60℃的测试环境，但是，服务器会因该测试治具所提供的测试温度超过其所能负荷而无法正常运行，进而影响该磁碟阵列卡的测试准确性，更严重地还会损坏该服务器。

因此，现有测试治具并不能对与服务器不同工作条件的外接卡进行运行检测，更不能同时对插设在该服务器中的不同工作条件的多个外接卡进行运行测试。

再者，现有测试治具提供一固定检测高度，也就是现有测试治具仅能对特定高度的电子产品进行运行检测，因而若待检测的电子产品的高度大于该测试治具所提供的检测高度时，则现有测试治具将会因高度规格的不符而无法对该电子产品进行运行测试。

因此，如何克服现有技术中的种种问题，实已成目前急欲解决的问题。

实用新型内容

鉴于所述现有技术的种种缺陷，本实用新型的一目的是提供一种有效提高测量准确度的测试治具。

本实用新型的另一目的是提供一种有效提升对于不同规格电子器件的外接卡的适应性的测试治具。

为达到所述及其他目的，本实用新型提供一种电子器件测试治具，其提供独立环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，该测试治具包括：测试治具本体，具有底板、设在该底板周围的多个侧板、及设在该多个侧板上且与该底板相对的顶板，通过该底板、侧板及顶板的结合得以构成一测试环境，该底板具有穿设部，从而使该电子器件得以进入该测试环境中，该多个侧板的一个具有入风口，且在该入风口的对向侧板上具有出风口，而该入风口至该出风口的方向定义为第一方向，该多个侧板的一个具有电线通口，供通过电线，从而使该电子器件的外接卡通过该电线与该电子器件电性连接；以及测量器，设在该测试治具本体上，并具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件相面对的测量端，该测量端至该电子器件的方向定义为垂直该第一方向的第二方向.

在本实用新型的一实施例中，该多个侧板中与该具有电线通口的侧板两相对端相邻的侧板还具有第一轨道，引导该具有电线通口的侧板相对于该测试治具本体运动。该第一方向为该测试环境中的气体流动方向。该测量器设在该多个侧板中与该电子器件的外接卡相面对的一侧板上，其中，设有该测量器的侧板具有测量器通口，穿设该测量器的测量端进入该测试环境中。

在本实用新型的另一实施例中，该多个侧板中与该具有电线通口的侧板两相对端相邻的侧板还具有第一轨道，引导该具有电线通口的侧板相对于该测试治具本体运动。该多个侧板中与该底板两相对端相邻的侧板还具有第二轨道，引导该底板相对于该测试治具本体运动。

在本实用新型的再一实施例中，该测量器为风速计或温度计。该穿设部为卡槽。该测试治具还包括风扇，设在该入风口上。测试治具还包括环境测试机，与该入风口相连接，其中，该环境测试机为恒温环境测试机、恒湿环境测试机或恒风速环境测试机。