[实用新型]光盘孔径测量治具有效
申请号: | 200920072121.1 | 申请日: | 2009-05-13 |
公开(公告)号: | CN201397104Y | 公开(公告)日: | 2010-02-03 |
发明(设计)人: | 丁强;翁梅吉 | 申请(专利权)人: | 上海新索音乐有限公司 |
主分类号: | G01B3/30 | 分类号: | G01B3/30;G01B5/12 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 俞宗耀 |
地址: | 201600*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种光盘孔径测量治具,包括底座和与所述底座垂直固定连接的测量柱,其特征在于:所述测量柱表面置有刻度标识,所述测量柱上端外径小于光盘中心孔内径,下端外径大于光盘中心孔内径,呈上细下粗圆锥形,测量压块中心孔孔径与所述测量柱外径动配合。本实用新型的积极效果是:测量员只需将待测量光盘中心孔套在测量柱上,然后压上测量专用压块直接读数即可,操作非常方便。由于使用了统一重量的专用压块,解决了不同测量员测试时由于使用力量的不同,导致测量柱对碟片孔径扩张的大小也不同的问题。读数直径标注在测量柱上,直接读数,并且用红色标明了上下限的值,可以让测量员快速正确地判断碟片孔径合格与否,提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 光盘 孔径 测量 | ||
【主权项】:
1.一种光盘孔径测量治具,包括底座(5)和与所述底座(5)垂直固定连接的测量柱(1),其特征在于:所述测量柱(1)表面置有刻度标识(4),所述测量柱(1)上端外径小于光盘(3)中心孔内径,下端外径大于光盘(3)中心孔内径,呈上细下粗圆锥形,测量专用压块(2)中心孔孔径与所述测量柱(1)外径动配合。
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