[实用新型]光盘孔径测量治具有效

专利信息
申请号: 200920072121.1 申请日: 2009-05-13
公开(公告)号: CN201397104Y 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 丁强;翁梅吉 申请(专利权)人: 上海新索音乐有限公司
主分类号: G01B3/30 分类号: G01B3/30;G01B5/12
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 俞宗耀
地址: 201600*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光盘 孔径 测量
【权利要求书】:

1.一种光盘孔径测量治具,包括底座(5)和与所述底座(5)垂直固定连接的测量柱(1),其特征在于:所述测量柱(1)表面置有刻度标识(4),所述测量柱(1)上端外径小于光盘(3)中心孔内径,下端外径大于光盘(3)中心孔内径,呈上细下粗圆锥形,测量专用压块(2)中心孔孔径与所述测量柱(1)外径动配合。

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