[实用新型]集成电路芯片结构无效

专利信息
申请号: 200920002913.1 申请日: 2009-01-16
公开(公告)号: CN201336308Y 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 任翀 申请(专利权)人: BCD半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L23/485
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 王 洁
地址: 英属开曼*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 实用新型提出一种集成电路芯片结构,其包括:半导体衬底;N型或P型掺杂区,多晶硅,绝缘层和多层金属布线等结构,制作在所述半导体衬底上;钝化层,沉积在上述结构上,其具有多个光刻形成的连接孔;多个顶层金属区域,电镀形成于所述多个连接孔上,其中所述多个顶层金属区域下部具有阻挡层,上部具有保护层。本实用新型提出的集成电路芯片结构,其顶层金属层能够有效增加功率器件局部金属层的厚度,能够用作可放置在有源器件上的压焊金属层,从而减少芯片面积,直接使用铜封装技术,集成电路降低生产成本。
搜索关键词: 集成电路 芯片 结构
【主权项】:
1.一种集成电路芯片结构,其特征在于包括:半导体衬底;N型或P型掺杂区,多晶硅,绝缘层和多层金属布线等结构,制作在所述半导体衬底上;钝化层,沉积在上述结构上,其具有多个光刻形成的连接孔;多个顶层金属区域,电镀形成于所述多个连接孔上,其中所述多个第二金属区域下部具有阻挡层,上部具有保护层。
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