[发明专利]利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法

摘要

利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法，它涉及一种对电缆绝缘料中杂质检测的方法，解决了现有技术对电缆绝缘料中杂质检测的分辨率不高、测量速度不高的问题，其步骤为：A测量标定板上已知的不同尺寸的圆形颗粒，B获得标定板每种尺寸颗粒的像函数序列的宽度，C解算出CCD摄像机上每种尺寸颗粒的像函数解算尺寸；D确定像函数的解算尺寸和圆形颗粒实际尺寸a的对应关系；E测量超净电缆绝缘料薄带中杂质颗粒的尺寸；F获得超净电缆绝缘料薄带像函数序列的宽度；G解算出CCD摄像机上杂质颗粒的像函数解算尺寸；H确定被测超净电缆绝缘料6薄带杂质的实际尺寸。本发明适用于超高压电缆料及电缆生产和质量检测领域。

主权项

利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法，其特征在于它是基于以下装置实现的：利用衍射效应对超净电缆绝缘料中杂质检测的装置由光源(1)、透镜(2)、CCD摄像机(3)、AD转换卡(4)和计算机(5)组成，光源(1)、透镜(2)、CCD摄像机(3)依次从左至右共轴排列，所述CCD摄像机(3)设置在透镜(2)的像方焦平面上，CCD摄像机(3)的信号输出端与AD转换卡(4)的模拟信号输入端相连，AD转换卡(4)的数字信号输出端与计算机(5)的信号输入端相连；利用衍射效应提高超净电缆绝缘料中杂质检测分辨率的方法具体步骤如下：步骤A、将标定板(7)放置在透镜(2)的物方焦平面上，保证标定板(7)完全被光源(1)的光束覆盖，所述标定板(7)上制作有不同尺寸的圆形颗粒，颗粒尺寸在20μm至100μm之间；步骤B、标定板(7)以速度v匀速通过超净电缆绝缘料中杂质检测的装置N次，记录每种尺寸颗粒每次经过AD转换卡(4)后的像函数序列的宽度Δt，将每种尺寸颗粒的N次测量结果取平均值并取整数，获得标定板(7)每种尺寸颗粒的像函数序列的宽度Δt；步骤C、通过步骤B获得的标定板(7)每种尺寸颗粒的像函数序列的宽度Δt，获得CCD摄像机(3)上每种尺寸颗粒的衍射图像像函数解算尺寸a’；步骤D、确定步骤C获得衍射图像像函数的解算尺寸a’与圆形颗粒实际尺寸a的对应关系；步骤E、将被测超净电缆绝缘料(6)制成厚度在0.5mm至1.2mm之间，宽度为20mm至30mm的被测超净电缆绝缘料(6)薄带，放置在透镜(2)的物方焦平面上，保证被测超净电缆绝缘料(6)薄带的宽度完全被光源(1)的光束覆盖；步骤F、被测超净电缆绝缘料(6)薄带以速度v匀速通过超净电缆绝缘料中杂质检测的装置；步骤G、记录杂质颗粒经过AD转换卡(4)后的像函数序列的宽度Δt；步骤H、通过步骤G获得的杂质颗粒的像函数序列的宽度Δt，获得CCD摄像机(3)上杂质颗粒的像函数解算尺寸a’；步骤I、通过步骤D获得的像函数的解算尺寸a’和圆形颗粒实际尺寸a的对应关系，确定被测超净电缆绝缘料(6)薄带杂质的实际尺寸a。