[发明专利]曲折多匝结构巨磁阻抗效应传感器无效

专利信息
申请号: 200910307531.4 申请日: 2009-09-23
公开(公告)号: CN101644748A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 周志敏;周勇;陈磊;雷冲;丁文 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09;H01L43/08
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种曲折多匝结构巨磁阻抗效应传感器,属于测量技术领域。本发明包括:带SiO2层的硅衬底、软磁多层膜和引脚,其中:软磁多层膜位于带SiO2层的硅衬底上,引脚的一端与软磁多层膜固定连接,另一端固定于带有SiO2层的硅衬底上,软磁多层膜为方波形的曲折多匝结构,其匝数为10匝,匝间距离为60μm,峰-峰值为5mm,所述引脚的个数为21个。本发明测量参数可调、磁场灵敏高度、阻抗变化率大、可应用于大面积非均匀磁场的探测。
搜索关键词: 曲折 结构 磁阻 效应 传感器
【主权项】:
1.一种曲折多匝结构巨磁阻抗效应传感器,包括:带SiO2层的硅衬底、软磁多层膜和引脚,其中:软磁多层膜为方波形的曲折多匝结构,并位于带SiO2层的硅衬底上,引脚的一端与软磁多层膜固定连接,另一端固定于带有SiO2层的硅衬底上,其特征在于,软磁多层膜的匝数为10匝,匝间距离为60μm,峰-峰值为5mm,引脚的个数为21个。
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