[发明专利]一种X射线荧光分析系统

摘要

本发明公开了一种X射线荧光分析系统，包括承载待测样品的基台、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪以及接收X荧光的探测器，探测器上依次连接有前置放大器、DPU处理器和计算机，所述的DPU处理器包括顺序连接的放大整形模块、ADC转换模块、数字脉冲整形模块、谱线图形成逻辑模块、存储器和uPC单片机接口逻辑电路，所述的ADC转换模块和谱线图形成逻辑模块之间还连接有脉冲选择逻辑处理模块，谱线图形成逻辑模块还连接有DAC转换硬件调试电路；本发明在对样品进行元素检测分析时，将样品放置在基台上，DPU处理器、计算机及分析系统模块可完成全部的数字运算，通过显示器直接显示出元素的含量，稳定性好，且测量精度高。

主权项

一种X射线荧光分析系统，包括承载待测样品的基台(2)、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪(1)以及接收X荧光的探测器(3)，探测器(3)上依次连接有前置放大器(4)、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的DPU处理器(5)、对转换的数字信号进行二次处理的计算机(6)，所述计算机(6)通过分析系统模块(11)完成数据计算处理并通过显示器(12)显示结果，其特征在于：所述的DPU处理器(5)包括顺序连接的放大整形模块(51)、ADC转换模块(52)、数字脉冲整形模块(53)、谱线图形成逻辑模块(55)、存储器(56)和uPC单片机接口逻辑电路(57)，所述的ADC转换模块(52)和谱线图形成逻辑模块(55)之间还连接有脉冲选择逻辑处理模块(54)，谱线图形成逻辑模块(55)还连接有DAC转换硬件调试电路(58)。