[发明专利]一种X射线荧光分析系统无效
| 申请号： | 200910249932.9 | 申请日： | 2009-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN102087230A | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 韩晓朋 | 申请（专利权）人： | 韩晓朋;梁志宏;杨培全 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 523850 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 分析 系统 | ||
1.一种X射线荧光分析系统，包括承载待测样品的基台(2)、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪(1)以及接收X荧光的探测器(3)，探测器(3)上依次连接有前置放大器(4)、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的DPU处理器(5)、对转换的数字信号进行二次处理的计算机(6)，所述计算机(6)通过分析系统模块(11)完成数据计算处理并通过显示器(12)显示结果，其特征在于：所述的DPU处理器(5)包括顺序连接的放大整形模块(51)、ADC转换模块(52)、数字脉冲整形模块(53)、谱线图形成逻辑模块(55)、存储器(56)和uPC单片机接口逻辑电路(57)，所述的ADC转换模块(52)和谱线图形成逻辑模块(55)之间还连接有脉冲选择逻辑处理模块(54)，谱线图形成逻辑模块(55)还连接有DAC转换硬件调试电路(58)。
2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光分析系统，其特征在于，计算机(6)及分析系统模块(11)依次通过元素识别标定、光谱平滑处理、逃逸峰处理、堆积处理、背景移除处理、康普顿波峰处理、去卷积非线性处理、谱线强度提取、谱线积分与迭代处理、谱线高斯处理、标准去卷积处理和基本参数法处理完成全部的数字信号运算，从而给出谱线图和最终数据结果。
3.根据权利要求1或2所述的一种X射线荧光分析系统，其特征在于，还包括直流的总电源模块(9)，该总电源模块(9)输出连接有多通道电源模块(8)和高压电源模块(10)，多通道电源模块(8)分别为探测器(3)、前置放大器(4)和DPU处理器(5)提供工作电源，高压电源模块(10)为X射线枪(1)提供工作需要的高压。
4.根据权利要求3所述的一种X射线荧光分析系统，其特征在于，所述的计算机(6)上连接有控制接口(7)，该控制接口(7)同时与总电源模块(9)、多通道电源模块(8)和高压电源模块(10)连接。
5.根据权利要求4所述的一种X射线荧光分析系统，其特征在于，所述的探测器(3)和前置放大器(4)安装于密闭的金属壳内。
6.根据权利要求5所述的一种X射线荧光分析系统，其特征在于，所述的DPU处理器(5)通过USB接口或RS232接口与计算机(6)连接。
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