[发明专利]一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统无效
| 申请号： | 200910235520.X | 申请日： | 2009-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN101672783A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 高旻;程睿;李文亮 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙） | 代理人： | 俞达成 |
| 地址： | 100871北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统，属于纳米材料光学表征技术领域。本发明系统包括光源，光学器件一，光学器件二，和光分析仪器；来自光源的激发光经光学器件一后激发一维纳米材料发射荧光，荧光经过光学器件二后传递至光分析仪器；其特征在于，光学器件一和光学器件二其一为显微物镜，另一为会聚透镜，或两者均为显微物镜。在该系统中，光学器件二固定，纳米材料的c轴和光学器件二的光轴的夹角与纳米材料的c轴和光学器件一的光轴的夹角其一固定，另一可变。本发明可用于研究光激发对单根一维纳米材料光致荧光的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单根一维 纳米 材料 荧光 角度 分辨 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统，包括：光源，光学器件一，光学器件二，和光分析仪器；来自所述光源的激发光经过所述光学器件一后激发所述一维纳米材料发射荧光，所述荧光经过所述光学器件二后传递至所述光分析仪器；其特征在于，所述光学器件一和光学器件二其一为显微物镜，另一为会聚透镜，或两者均为显微物镜。
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