[发明专利]一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统

权利要求书

1.一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统，包括：光源，光学器件一，光学器件二，和光分析仪器；来自所述光源的激发光经过所述光学器件一后激发所述一维纳米材料发射荧光，所述荧光经过所述光学器件二后传递至所述光分析仪器；其特征在于，所述光学器件一和光学器件二其一为显微物镜，另一为会聚透镜，或两者均为显微物镜。

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述激发光激发所述一维纳米材料的激发点位于所述光学器件一和所述光学器件二光轴的交点上。

3.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光学器件二固定，所述一维纳米材料的c轴和所述光学器件二的光轴的夹角固定，所述一维纳米材料的c轴和所述光学器件一的光轴的夹角可变。

4.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光学器件二固定，所述一维纳米材料的c轴和所述光学器件二的光轴的夹角可变，所述一维纳米材料的c轴和所述光学器件一的光轴的夹角固定。

5.如权利要求4所述的测量系统，其特征在于，所述一维纳米材料的c轴和所述光学器件一的夹角为90°。

6.如权利要求1-5任意一项所述的测量系统，其特征在于，所述一维纳米材料通过一调节装置实现五维调节，所述五维对应所述一维纳米材料的三个平动自由度和两个相互正交的转动自由度。

7.如权利要求1-5任意一项所述的测量系统，其特征在于，所述光学器件二通过光纤和光分析仪器连接，所述光纤是通光波长为200nm-1100nm的紫外可见光纤或通光波长为400nm-2500nm的可见红外光纤。

8.如权利要求1-5任意一项所述的测量系统，其特征在于，所述光学器件二的接收角大小通过下列方式调节：

在所述光学器件二和所述光分析仪器之间的光路中设置光阑，通过调节所述光路的孔径光阑大小调节所述光学器件二的接收角大小；或，

所述光学器件二通过光纤和光分析仪器连接，通过调节所述光纤的芯径调节所述光学器件二的接收角大小，所述光纤的芯径优选为1mm。

9.如权利要求1-5任意一项所述的测量系统，其特征在于，所述光源是激光器或激光二极管。

10.如权利要求1-5任意一项所述的测量系统，其特征在于，所述光分析仪器选自光谱仪、光强计或光电倍增管。