[发明专利]面向超大型空间复杂曲面的绝对无干扰精密测量方法有效
| 申请号： | 200910228356.X | 申请日： | 2009-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN101706262A | 公开（公告）日： | 2010-05-12 |
| 发明（设计）人： | 邾继贵;吴斌;郭磊;邹剑;林嘉睿 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 张宏祥 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面向超大型空间复杂曲面的绝对无干扰精密测量方法，利用光学投射方法设置全局控制点和测量点；利用定向相机结合控制点技术，实现测量相机在各测站下的初始定向；利用全局控制点实现各测量点区域的拼接，再利用测量点作为公共点实现全局控制点区域的拼接。本发明解决了在不利用编码标志的情况下采用近景摄影测量方法实现超大型空间复杂曲面的测量问题。无需在被测物表面设置任何物理标记，对被测物表面形貌不造成丝毫干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 面向 超大型 空间 复杂 曲面 绝对 干扰 精密 测量方法 | ||
【主权项】：
一种面向超大型空间复杂曲面的绝对无干扰精密测量方法，其特征在于，利用光学投射方法设置全局控制点和测量点；利用定向相机结合控制点技术，实现测量相机在各测站下的初始定向；利用全局控制点实现各测量点区域的拼接，再利用测量点作为公共控制点实现全局控制点区域的拼接。
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