[发明专利]面向超大型空间复杂曲面的绝对无干扰精密测量方法

权利要求书

1.一种面向超大型空间复杂曲面的无干扰精密测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)预先标定测量相机(2)上的控制点(6)在测量相机坐标系下的精确空间三维坐标；规划被测物表面多个全局控制点区域；

2)固定定向相机(1)，当定向相机(1)的数量多于1台时，标定各定向相机间的空间位姿关系；

3)对某一全局控制点区域(9-1)进行测量，测量过程中利用全局控制点投射器(3)投射该全局控制点区域(9-1)中的全局控制点(7)，利用测量相机(2)在空间多个位姿下拍摄该全局控制点区域(9-1)中的全局控制点(7)，同时利用定向相机(1)拍摄测量相机(2)至少包含4个测量相机控制点(6)的图像，解算测量相机(2)每个位姿下的初始姿态，基于光束平差算法的近景摄影测量方法，解算该全局控制点区域(9-1)内全局控制点(7)的精确坐标，建立全局控制点坐标系O_GX_GY_GZ_G；在该全局控制点区域(9-1)内规划测量点区域，利用测量点投射器(4)在每个测量点区域内投射测量点(8)，利用测量相机(2)分别拍摄每个测量点区域的图像获取对应区域内测量点的三维坐标，利用每个测量点区域中包含的全局控制点(7)将各测量点区域的数据拼接到全局控制点坐标系O_GX_GY_GZ_G中，完成该全局控制点区域(9-1)的测量；

4)对相邻的另一全局控制点区域(9-2)进行测量，并完成相邻全局控制点区域之间的拼接；

a、当上一全局控制点区域(9-1)全部测量完成时，保持测量点投射器(4)的位置不动，移动全局控制点投射器(3)到下一位置，使其投射到当前全局控制点区域(9-2)中，利用测量相机(2)在空间多个位置姿态下获取当前全局控制点区域(9-2)的图像，其中包含测量点投射器(4)在上一个全局控制点区域(9-1)中投射的最后一个测量点区域(10-5)内的测量点；

b、利用上一个全局控制点区域(9-1)中最后一个测量点区域(10-5)内的测量点作为公共控制点，将当前全局控制点区域(9-2)内的全局控制点拼接到全局坐标系O_GX_GY_GZ_G中，获取当前全局控制点区域(9-2)中全局控制点在全局坐标系O_GX_GY_GZ_G下的精确三维坐标，实现上一个全局控制点区域(9-1)和当前全局控制点区域(9-2)的拼接；

c、按照步骤3)完成当前全局控制点区域(9-2)中测量点的测量和拼接；

5)重复步骤4)，直到完成被测物所有全局控制点区域的测量和拼接。