[发明专利]利用光谱反射率法测试涂层红外发射率的方法

摘要

本发明涉及一种利用光谱反射率法测试涂层红外发射率的方法，其特征在于：红外光源发出的光经分光板后分成两路，一路作为测量光束；另一路作为参考光束；将已知红外反射率ρ0的标准样品放置在测试光路中，存储记录光栅光谱议的测量值，记为ρ0′；再将经过喷涂好的待测样品放置在测试光路中，待测样品平面与入射光方向呈45度放置，存储记录光栅光谱议的测量值，记为ρ；通过光栅光谱仪得到的反射率光谱，根据α＝ρ0/ρ0′，计算得到1-ρ×α即为待测样品表面的红外发射率。其测试装置简单，测试条件宽松，能消除因被测样品对周围辐射的反射带来的误差，可以测量发射率低的样品，也可以测量不同温度下的发射率，是一种较实用的测试方法。

主权项

利用光谱反射率法测试涂层红外发射率的方法，其特征在于：测试系统由红外光源、多功能红外光栅光谱分析仪、计算机组成；其中红外光栅光谱仪分析仪由光栅单色仪、接收单元、扫描系统、电子放大器、A/D采集单元、计算机组成；光谱议的入射狭缝、出射狭缝均为值狭缝，宽度范围0‑2mm连续可调；检测的具体步骤如下：红外光源发出的光经分光板后分成两路，一路作为测量光束；另一路作为参考光束；将已知红外反射率ρ0的标准样品放置在测试光路中，存储记录光栅光谱议的测量值，记为ρ′0；再将经过喷涂好的待测样品放置在测试光路中，待测样品平面与入射光方向呈45度放置，存储记录光栅光谱议的测量值，记为ρ；通过光栅光谱仪得到的反射率光谱，根据α＝ρ0/ρ′0，计算得到1‑ρ×α即为待测样品表面的红外发射率。