[发明专利]利用光谱反射率法测试涂层红外发射率的方法无效
| 申请号： | 200910217957.0 | 申请日： | 2009-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102081037A | 公开（公告）日： | 2011-06-01 |
| 发明（设计）人： | 周胜蓝;于清翠;张苧心;高成勇;王纳新;王希军;廖大政 | 申请（专利权）人： | 中国第一汽车集团公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 王薇 |
| 地址： | 130011 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 利用 光谱 反射率 测试 涂层 红外 发射 方法 | ||
【权利要求书】：
1.利用光谱反射率法测试涂层红外发射率的方法，其特征在于：测试系统由红外光源、多功能红外光栅光谱分析仪、计算机组成；其中红外光栅光谱仪分析仪由光栅单色仪、接收单元、扫描系统、电子放大器、A/D采集单元、计算机组成；光谱议的入射狭缝、出射狭缝均为值狭缝，宽度范围0-2mm连续可调；
检测的具体步骤如下：红外光源发出的光经分光板后分成两路，一路作为测量光束；另一路作为参考光束；将已知红外反射率ρ0的标准样品放置在测试光路中，存储记录光栅光谱议的测量值，记为ρ′0；再将经过喷涂好的待测样品放置在测试光路中，待测样品平面与入射光方向呈45度放置，存储记录光栅光谱议的测量值，记为ρ；通过光栅光谱仪得到的反射率光谱，根据α＝ρ0/ρ′0，计算得到1-ρ×α即为待测样品表面的红外发射率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国第一汽车集团公司，未经中国第一汽车集团公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910217957.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
