[发明专利]一种准直偏转光束波前测试仪及其测试方法无效

专利信息
申请号: 200910216634.X 申请日: 2009-12-08
公开(公告)号: CN101718619A 公开(公告)日: 2010-06-02
发明(设计)人: 郑春艳;刘艺;吴健;冯胜 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 成都科海专利事务有限责任公司 51202 代理人: 盛明洁
地址: 610054 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种准直偏转光束波前测试仪及其测试方法,涉及光学领域中准直偏转光束的波前测量。测试仪由光束变向装置和剪切干涉光路组成,光束变向装置由一个反射镜和一个计算机控制的电动组合台构成。测量时用一束准直激光通过本测试仪产生的条纹作为参考条纹图,再根据待测光束的偏转角度通过计算机设定组合台的动作参数,控制反射镜旋转、平移,使光束传播方向改变为垂直于组合台的平移方向,测出畸变条纹图,根据条纹处理算法计算出偏转光束在入光口处的波前分布。本发明在现有四边形结构径向剪切干涉仪的基础上增加了一个改变偏转光束传播方向的装置,能够方便、快捷的测试准直偏转光束的波前,解决了现有仪器不能直接测试准直偏转光束波前这一困难。
搜索关键词: 一种 偏转 光束 测试仪 及其 测试 方法
【主权项】:
一种准直偏转光束波前测试仪,其特征在于该测试仪是由光束变向装置和剪切干涉光路组成,光束变向装置位于剪切干涉光路前的位置,且变向后光束中心线与剪切干涉光路的光轴方向重合,变向装置是由一个反射镜(1)和一个由计算机控制的电动组合旋转平移台构成。
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