[发明专利]IQ失配校正电路

摘要

本发明提供一边连续地执行接收处理一边校正频率依赖的IQ失配的IQ失配校正电路。该电路具备：校正电路，使用1次以上的1对数字滤波器(11、12)对I相和Q相的输入信号进行校正处理；2以上的控制电路(19、20)，个别地生成用于导出数字滤波器的各传递函数的2以上的系数的2以上的控制变量；1对以上的分析滤波器(17、18)，对校正后的I相和Q相的输出信号，以分别成为与原信号不同的频率特性的方式使频率特性变化，第一控制电路测定I相和Q相输出信号间的时间平均化后的IQ相位失配状态并作为第一控制变量，第二控制电路测定1对分析滤波器的I相和Q相侧的各输出信号间的被时间平均后的IQ相位失配状态并作为第二控制变量，分别向各数字滤波器反馈。

主权项

一种IQ相位失配校正电路，对I相和Q相的数字基带信号间的IQ相位失配进行校正，其中，该IQ相位失配校正电路构成为具备：第一数字滤波器，对时域的I相输入信号进行1次以上的数字滤波处理；第二数字滤波器，对时域的Q相输入信号进行1次以上的数字滤波处理；2以上的控制电路，在时域中，个别地生成用于导出所述第一和第二数字滤波器的各传递函数的2以上的系数的2以上的控制变量，对所述第一和第二数字滤波器供给；以及1对以上的分析滤波器，对于作为所述I相输入信号的延迟信号和所述第二数字滤波器的输出信号的差分或合成信号的I相输出信号、和作为所述Q相输入信号的延迟信号和所述第一数字滤波器的输出信号的差分或合成信号的Q相输出信号，以分别成为与原信号不同的频率特性的方式使频率特性变化，所述2以上的控制电路内的1个第一控制电路，构成为对所述I相输出信号和所述Q相输出信号间的时间平均化后的IQ相位失配状态进行测定，作为所述2以上的控制变量的1个的第一变量对所述第一和第二数字滤波器进行反馈，所述2以上的控制电路内的所述第一控制电路以外的1个第二控制电路，构成为对所述1对以上的分析滤波器内的对应的1对分析滤波器的I相侧和Q相侧的各输出信号间的时间平均化后的IQ相位失配状态进行测定，作为所述2以上的控制变量的另一个的第二变量对所述第一和第二数字滤波器进行反馈。