[发明专利]IQ失配校正电路有效
申请号: | 200910209120.1 | 申请日: | 2009-10-27 |
公开(公告)号: | CN101729468A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | S·阿瑙德;L·R·帕斯卡 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H04L25/03 | 分类号: | H04L25/03;H04L25/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 闫小龙;王忠忠 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | iq 失配 校正 电路 | ||
1.一种IQ相位失配校正电路,对I相和Q相的数字基带信号间的 IQ相位失配进行校正,其中,该IQ相位失配校正电路构成为具备:
第一数字滤波器,对时域的I相输入信号进行1次以上的数字滤波 处理;
第二数字滤波器,对时域的Q相输入信号进行1次以上的数字滤 波处理;
2个以上的控制电路,在时域中,个别地生成用于导出所述第一和 第二数字滤波器的各传递函数的2个以上的系数的2个以上的控制变 量,对所述第一和第二数字滤波器供给;以及
1对以上的分析滤波器,对于作为所述I相输入信号的延迟信号和 所述第二数字滤波器的输出信号的差分或合成信号的I相输出信号、和 作为所述Q相输入信号的延迟信号和所述第一数字滤波器的输出信号 的差分或合成信号的Q相输出信号,以分别成为与原信号不同的频率 特性的方式使频率特性变化,
所述2个以上的控制电路内的1个第一控制电路,构成为对所述I 相输出信号和所述Q相输出信号间的时间平均化后的IQ相位失配状态 进行测定,作为所述2个以上的控制变量的1个的第一变量对所述第 一和第二数字滤波器进行反馈,
所述2个以上的控制电路内的所述第一控制电路以外的1个第二 控制电路,构成为对所述1对以上的分析滤波器内的对应的1对分析 滤波器的I相侧和Q相侧的各输出信号间的时间平均化后的IQ相位失 配状态进行测定,作为所述2个以上的控制变量的另一个的第二变量 对所述第一和第二数字滤波器进行反馈。
2.根据权利要求1所述的IQ相位失配校正电路,其中,
在所述控制变量的数量是3以上,所述分析滤波器是2对以上的 情况下,1对所述分析滤波器和其它的对的所述分析滤波器的传递函数 相互不同。
3.根据权利要求1所述的IQ相位失配校正电路,其中,
所述2个以上的控制电路分别对于I相和Q相的各被处理信号, 进行在时域的乘法处理,使用该乘法结果逐次执行利用最小均方算法 的所述控制变量的适应化处理。
4.根据权利要求1所述的IQ相位失配校正电路,其中,
所述第一和第二数字滤波器是2次以上的对称结构的有限长脉冲 响应滤波器。
5.根据权利要求1所述的IQ相位失配校正电路,其中,
所述分析滤波器是无限长脉冲响应滤波器。
6.一种IQ增益失配校正电路,对I相和Q相的数字基带信号间的 IQ增益失配进行校正,其中,该IQ增益失配校正电路构成为具备:
第一数字滤波器,对时域的I相输入信号进行1次以上的数字滤波 处理;
第二数字滤波器,对时域的Q相输入信号进行1次以上的数字滤 波处理;
2个以上的控制电路,在时域中,个别地生成用于导出所述第一和 第二数字滤波器的各传递函数的2个以上的系数的2个以上的控制变 量,对所述第一和第二数字滤波器进行反馈;以及
1对以上的分析滤波器,对于作为所述第一数字滤波器的输出信号 的I相输出信号、和作为所述Q相输入信号的输出信号的Q相输出信 号,以分别成为与原信号不同的频率特性的方式使频率特性变化,
所述2个以上的控制电路内的1个第一控制电路,构成为对所述I 相输出信号和所述Q相输出信号间的时间平均化后的IQ增益失配状态 进行测定,作为所述2个以上的控制变量的1个的第一变量对所述第 一和第二数字滤波器进行反馈,
所述2个以上的控制电路内的所述第一控制电路以外的1个第二 控制电路,构成为对所述1对以上的分析滤波器内的对应的1对分析 滤波器的I相侧和Q相侧的各输出信号间的时间平均化后的IQ增益失 配状态进行测定,作为所述2个以上的控制变量的另一个的第二变量 对所述第一和第二数字滤波器进行反馈。
7.根据权利要求6所述的IQ增益失配校正电路,其中,
在所述控制变量的数量是3以上,所述分析滤波器是2对以上的 情况下,1对所述分析滤波器和其它的对的所述分析滤波器的传递函数 相互不同。
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