[发明专利]使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置有效
| 申请号： | 200910201776.9 | 申请日： | 2009-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN102054536A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 宋鋆鋆;曾志敏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C11/413 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种使用ALPG测试仪进行DualPort SRAM测试的装置，所述DP SRAM器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，测试时，除最高地址位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个地址位都相互连接，两个最高地址位相互不连接，并且有效时的最高地址位电平状态相反，所述两组独立的地址系统都连接至ALPG测试仪相应的端口上。本发明避开了ALPG测试系统在测试DP SRAM时的系统限制，最大程度发挥ALPG测试系统在测试memory产品时的高效便利的特点，提高了测试效率，节省大量测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 alpg 测试仪 进行 dp sram 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置，所述DP SRAM器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，其特征在于，除最高位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个位都相互连接，两个最高位相互不连接，并且有效时的电平状态相反，所述两组独立的地址系统都连接至ALPG测试仪相应的端口上。
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