[发明专利]用于漏氢检测的钯合金电化学纳米氢传感器敏感层及方法无效

专利信息
申请号: 200910201099.0 申请日: 2009-12-15
公开(公告)号: CN101813657A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 翁百成;李志林;杨辉;吴铸 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01N27/12 分类号: G01N27/12;B22F9/24
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 潘振甦
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种传感器敏感层及制备方法,是一种低成本、快速响应的化学氢传感器敏感层。其特征是:通过化学还原法制得的钯合金纳米级钯银,钯镍合金粒子等通过硅烷偶联剂的配合作用,化学吸附在玻璃基体表面。其有益效果是:将合金纳米颗粒制备技术与传感技术有机结合,响应时间短;灵敏度高。完全满足氢储运过程中对漏氢的检测要求。应用本发明的技术对保障氢能源相关行业的安全意义重大而深远。
搜索关键词: 用于 检测 合金 电化学 纳米 传感器 敏感 方法
【主权项】:
一种用于漏氢检测的电化学纳米氢传感器敏感层,其特征在于所述的敏感层由化学吸附在绝缘体表面的钯合金纳米金属粒子组成;所述的钯合金为钯-镍或钯银合金,其中钯的质量百分数为85%-94%,余量为镍或银;所述的绝缘体为采用硅烷偶联剂修饰的玻璃基体。
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