[发明专利]具有双超浅隔离结构的多点式硅晶体管有效

专利信息
申请号: 200910198058.0 申请日: 2009-10-30
公开(公告)号: CN101697350A 公开(公告)日: 2010-04-21
发明(设计)人: 彭树根;高明辉 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/082 分类号: H01L27/082;H01L29/73;H01L21/762
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 余明伟
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭露了一种具有双超浅隔离结构的多点式硅晶体管,其包含至少邻接的二晶体管单元,所述各晶体管单元水平设于硅基板中,且相邻晶体管单元互相对称设置,每一晶体管单元包含一第一、第二超浅沟道结构、一第一、第二型掺杂区,一介于所述第一、第二超浅沟槽结构之间的第二型轻掺杂区。第一、第二型掺杂区不但分别与第一、第二超浅沟槽结构邻接,并与第二型轻掺杂区邻接,另外在第二型轻掺杂区的表面形成一第一型射极结构。本发明能使与基极连接的基极连接导线的内阻变小,以减少整个器件的功率消耗。
搜索关键词: 具有 双超浅 隔离 结构 多点 晶体管
【主权项】:
一种具有双超浅隔离结构的多点式硅晶体管,其特征在于包含:一硅基板,其周围形成有一第一型阱区、一第一、第二隔离结构,且所述第一、第二隔离结构分别位于所述第一型阱区的外围与内围;以及至少二晶体管单元,其水平设于所述硅基板中,且每一晶体管单元彼此邻接,同时,相邻两晶体管单元互相对称设置,每一晶体管单元都包含:一第二型掺杂区,其位于所述硅基板中,以作为集电极;一第一型掺杂区,其位于所述硅基板中,且与所述第二型掺杂区邻接;一第一超浅隔离结构,其位于所述硅基板中,并与所述第二型掺杂区邻接;一第二超浅隔离结构,其位于所述硅基板中,并与所述第一型掺杂区邻接;一第一型轻掺杂区,其位于所述第一、第二超浅隔离结构之间,且与所述第一、第二型掺杂区邻接,以作为基极;以及一第二型射极结构,其位于所述硅基板表面,且处于所述第一型轻掺杂区上。
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