[发明专利]一种禁带宽度连续可调的高介电常数薄膜材料及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200910197206.7 申请日: 2009-10-15
公开(公告)号: CN101692460A 公开(公告)日: 2010-04-07
发明(设计)人: 徐岩;孙清清;王鹏飞;丁士进;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L29/43 分类号: H01L29/43;H01L21/285
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于微电子材料领域,具体公开了一种禁带宽度连续可调的高介电常数(高k)薄膜材料及其制备方法。本发明所述的禁带宽度连续可调的高k薄膜材料组成通式为(Nb2O5)x(Al2O3)1-x,其中x为摩尔分数,0<x<1,通过控制x的值来调节(Nb2O5)x(Al2O3)1-x薄膜中Nb2O5和Al2O3的含量,可以实现其禁带宽度在3.4~8.8eV范围内连续可调。该高k薄膜材料采用原子层淀积的方法来制备。本发明的优点在于该薄膜利用了Nb2O5和Al2O3的协同作用,弥补了Al2O3介电常数较低的缺陷,同时将Al2O3热稳定好的特点融入到薄膜当中,使其具有高介电常数和良好的热稳定性的特点。
搜索关键词: 一种 宽度 连续 可调 介电常数 薄膜 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种禁带宽度连续可调的高介电常数薄膜材料,其特征是,该薄膜材料是由Nb2O5和Al2O3组成的二元氧化物,其通式为(Nb2O5)x(Al2O3)1-x,其中x为摩尔分数,且0<x<1,该薄膜材料的禁带宽度在3.4~8.8eV范围内连续可调。
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