[发明专利]纵向高压硼扩散深槽半导体管的制备方法有效

专利信息
申请号: 200910185324.6 申请日: 2009-11-05
公开(公告)号: CN101853785A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 易扬波;李海松;王钦;杨东林;陶平 申请(专利权)人: 苏州博创集成电路设计有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/22;H01L21/324
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 黄雪兰
地址: 215123 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种纵向高压硼扩散深槽半导体管的制备方法,包括N型掺杂类型半导体衬底,在衬底上设有N型外延层,在外延层中设有高浓度P型半导体区,在高浓度P型半导体区中设有氧化填充物,在外延层的顶部设有P型半导体区,在此P型半导体区中设有N型源区,该器件的高浓度P型半导体区是通过在深槽刻蚀后,向深槽中注入气态氧化硼,气态氧化硼和侧壁及底部的硅反应生成硼和二氧化硅,经过的热退火推阱工艺后形成。该种制备方法工艺简单,成本低,制造出来的器件的可靠性高。
搜索关键词: 纵向 高压 扩散 半导体 制备 方法
【主权项】:
一种纵向高压硼扩散深槽半导体管的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:首先取一块N型掺杂类型半导体衬底(1),然后在N型掺杂类型半导体衬底(1)上生长N型掺杂类型半导体外延层(2),接着在N型掺杂类型半导体外延层(2)上生成间隔距离相等的P型掺杂半导体区(4),接着从P型掺杂半导体区(4)向N型掺杂类型半导体外延层(2)刻蚀并形成深槽(51),深槽(51)穿过P型掺杂半导体区(4),接着向深槽中通入气态氧化硼,气态氧化硼和深槽(51)底部及侧壁的硅反应生成二氧化硅和硼,接着经过热退火工艺工程,使生成的硼扩散进入到深槽侧壁及底部未和气态氧化硼反应的硅中,并使得这部分半导体区域变为P型半导体区(3),同时在深槽侧壁及底部形成二氧化硅层(61),接着向深槽中填满二氧化硅,接着去除器件表面多余的二氧化硅,留下的二氧化硅称为二氧化硅介质层(9),接着在P型掺杂半导体区(4)中生成N型掺杂半导体源区(5),最后依次生成栅氧化层(6),多晶硅栅(7)和金属层(8)。
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