[发明专利]坏区块识别方法及将数据写入存储器的方法无效
| 申请号： | 200910169634.9 | 申请日： | 2009-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN101673228A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 刘孟昌;刘秉周 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G06F12/06 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 葛 强;张一军 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种坏区块识别方法及将数据写入存储器的方法。其中坏区块识别方法包括：对所述数据执行数据译码功能；判定数据译码功能是否成功执行；若未成功，则检查存储区块中的至少一个预设位置；判定至少一个预设位置是否由预设信息所标记；以及若至少一个预设位置未由预设信息标记，则将存储区块识别为一坏区块。本发明通过检查存储区块中的至少一个预设位置，判定至少一个预设位置是否由预设信息所标记，实现了适用于具有多种数据格式的NAND型闪存的坏区块侦测。 | ||
| 搜索关键词： | 区块 识别 方法 数据 写入 存储器 | ||
【主权项】：
1.一种坏区块识别方法，用于存储器，所述存储器包括至少一个用于储存数据的存储区块，其特征在于，所述坏区块识别方法包括：对所述数据执行数据译码功能；判定所述数据译码功能是否成功执行；若所述数据译码功能未成功执行，则检查所述存储区块中的至少一个预设位置；判定所述至少一个预设位置是否由预设信息所标记；以及若所述至少一个预设位置未由所述预设信息标记，则将所述存储区块识别为坏区块。
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