[发明专利]热固化型芯片接合薄膜有效

专利信息
申请号: 200910165975.9 申请日: 2009-08-20
公开(公告)号: CN101661909A 公开(公告)日: 2010-03-03
发明(设计)人: 菅生悠树;三隅贞仁;松村健 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;C09J133/04
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供在将半导体元件芯片接合到被粘物上时,抑制其边缘部产生微孔或局部收缩,结果能够提高半导体装置的制造成品率的热固化型芯片接合薄膜。本发明的热固化型芯片接合薄膜,是制造半导体装置时使用的热固化型接合膜,其中,至少包含环氧树脂、酚树脂及丙烯酸系共聚物,并且当设所述环氧树脂与酚树脂的总重量为X、丙烯酸系共聚物的重量为Y时,其比率X/Y为0.7~5。
搜索关键词: 固化 芯片 接合 薄膜
【主权项】:
1.一种热固化型芯片接合薄膜,在制造半导体装置时使用,其中,至少包含环氧树脂、酚树脂及丙烯酸系共聚物,并且当设所述环氧树脂与酚树脂的总重量为X、丙烯酸系共聚物的重量为Y时,其比率X/Y为0.7~5。
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