[发明专利]X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法无效
| 申请号： | 200910154963.6 | 申请日： | 2009-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN101713752A | 公开（公告）日： | 2010-05-26 |
| 发明（设计）人： | 张毓强;陆海泉;武永强;陈建良;许明初 | 申请（专利权）人： | 巨石集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人： | 黄美娟;王兵 |
| 地址： | 314500 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法，所述测定方法包括制样、制作硫元素对应的校准曲线、测量无碱玻璃配合料样片中硫元素的X射线荧光强度并计算出无碱玻璃配合料中SO3含量等步骤，其中制样采用如下方法：称取相同质量的无碱玻璃配合料标准品和样品，分别放入振动磨的磨盘中，磨制50～70秒时间，磨制完成后，用硼酸镶边衬底，在压片机上设置2.0～3.5吨的压力，压制时间为15～25秒，制成无碱玻璃配合料标准样片和样片。本发明采用压片法制样，可以有效地抑制样品中硫的挥发，测量准确度、精密度较好，能够满足实际生产控制的需要，达到常规化学分析法测量精度；并且检测时间短，大大提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 光谱 测定 玻璃 配合 料中总硫 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法，所述无碱玻璃配合料中含有SO3，所述无碱玻璃配合料中SO3含量的测定方法包括下列步骤：(1)将无碱玻璃样品配合料标准品或无碱玻璃配合料样品制样，得到相应的无碱玻璃配合料标准样片或无碱玻璃配合料样片；(2)制作硫元素对应的校准曲线；(3)测量无碱玻璃配合料样片中硫元素的X射线荧光强度，并根据校准曲线计算出无碱玻璃配合料样品中SO3含量；其特征在于所述的制样按照如下步骤进行：称取相同质量的无碱玻璃配合料标准品或无碱玻璃配合料样品，分别放入振动磨的磨盘中，磨制50～70秒时间，磨制完成后，用硼酸镶边衬底，在压片机上设置2.0～3.5吨的压力，压制时间为15～25秒，制成相应的无碱玻璃配合料标准样片或无碱玻璃配合料样片。
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