[发明专利]试样分析仪、粒子分布图显示方法及计算机系统无效
| 申请号： | 200910150690.8 | 申请日： | 2009-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN101620223A | 公开（公告）日： | 2010-01-06 |
| 发明（设计）人： | 有吉俊辅;水本徹;立谷洋大 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/48 | 分类号： | G01N33/48;G01N21/51;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明包括试样分析仪、粒子分布图显示方法和计算机系统，该试样分析仪包括：测定装置，通过测定含粒子的试样，获取粒子相关的特征参数信息；粒子分布图生成单元，根据所述测定装置获取的特征参数信息，生成表示与所述特征参数信息相关的所述试样中所含粒子的分布状态的粒子分布图；显示器；及显示控制单元，控制所述显示器显示说明所述粒子分布图中的所述分布状态的提示信息和所述粒子分布图。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 粒子 分布图 显示 方法 计算机系统 | ||
【主权项】：
1.一种试样分析仪，包括：测定装置，通过测定含粒子的试样，获取粒子相关的特征参数信息；粒子分布图生成单元，根据所述测定装置获取的特征参数信息，生成表示与所述特征参数信息相关的所述试样中所含粒子的分布状态的粒子分布图；显示器；及显示控制单元，控制所述显示器显示说明所述粒子分布图中的所述分布状态的提示信息和所述粒子分布图。
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