[发明专利]试样分析仪、粒子分布图显示方法及计算机系统

权利要求书

1.一种试样分析仪，包括：

测定装置，通过测定含粒子的试样，获取粒子相关的特征参数信息；

粒子分布图生成单元，根据所述测定装置获取的特征参数信息，生成表示与所述特征参数信息相关的所述试样中所含粒子的分布状态的粒子分布图；

显示器；及

显示控制单元，控制所述显示器显示说明所述粒子分布图中的所述分布状态的提示信息和所述粒子分布图。

2.权利要求1所述试样分析仪，还包括：

提示信息获取单元，即根据所述测定装置获取的特征参数信息，获取根据所述粒子分布图中所述分布状态而变化的所述提示信息，

其中，所述显示控制单元控制所述显示器显示所述提示信息获取单元获取的所述提示信息。

3.权利要求2所述试样分析仪，还包括：

存储器，储存着作为所述提示信息使用的用于表示粒子分布图的粒子分布状态的分布状态信息，

其中，所述提示信息获取单元从所述存储器提取与所述粒子分布图中所述分布状态对应的分布状态信息作为所述提示信息。

4.权利要求1至3其中之一所述试样分析仪，还包括：

输入设备，用于接受所述显示器显示的所述粒子分布图的指定；及

指定判断单元，判断是否指定了所述显示器显示的所述粒子分布图，

其中所述显示控制单元控制所述显示器显示所述粒子分布图，并当所述指定判断单元判断所述粒子分布图被指定时，控制所述显示器在显示有所述粒子分布图的所述显示器显示屏上显示所述提示信息。

5.权利要求4所述试样分析仪，还包括：

解除指定判断单元，在所述显示器显示的所述粒子分布图已被指定的状态下，判断对所述粒子分布图的指定是否已经解除，

其中在所述提示信息显示在所述显示器上的情况下，当所述解除指定判断单元判断所述指定已解除时，所述显示控制单元控制所述显示器结束所述提示信息的显示。

6.权利要求1所述试样分析仪，其特征在于：

所述显示控制单元控制所述显示器在所述粒子分布图上重叠显示所述提示信息。

7.权利要求1所述试样分析仪，其特征在于：

所述显示控制单元控制所述显示器在所述显示器上的部分显示区显示所述粒子分布图，且在所述显示区上的所述粒子分布图的显示部分的外侧显示所述提示信息。

8.权利要求1所述试样分析仪，还包括：

分类单元，根据所述测定装置获取的所述特征参数信息，将所述试样中所含粒子分成多类，

其中所述显示控制单元控制所述显示器显示包含表示所述分类单元分类结果的信息在内的所述提示信息。

9.权利要求8所述试样分析仪，还包括：

定位单元，根据多种粒子在所述粒子分布图中各自出现的位置，确定所述每种粒子在所述粒子分布图上的位置，以便显示表示粒子种类的种类信息，

其中，所述显示控制单元控制所述显示器与所述定位单元所定位置相关联地显示多个所述种类信息，作为表示所述分类结果的信息。

10.权利要求8所述试样分析仪，还包括：

粒子计数单元，对所述分类单元分类的粒子按种类进行计数，

其中，所述显示控制单元控制所述显示器显示包含粒子种类信息和所述粒子计数单元获取的粒子数的所述提示信息。

11.权利要求10所述试样分析仪，还包括：

计数异常判断单元，就每种粒子判断所述粒子计数单元的计数结果是否异常，

其中，当计数异常判断单元判断有某种粒子计数结果异常时，所述显示控制单元控制所述显示器显示包含判断异常的粒子种类信息和表示计数结果异常的计数异常信息的所述提示信息。