[发明专利]半导体处理用的成膜装置及其使用方法有效
申请号: | 200910127042.0 | 申请日: | 2009-03-13 |
公开(公告)号: | CN101532126A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 冈田充弘;户根川大和 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/22 | 分类号: | C23C16/22;C23C16/455;C23C16/54;C23C16/56;H01L21/00 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体处理用的成膜装置及其使用方法。半导体处理用的成膜装置的使用方法,为了减少金属污染,包括:使用清洗气体对处理容器内的内壁和不保持产品用被处理体的保持部件的表面进行清洗处理的工序;接着,通过交替供给硅源气体和氮化气体而进行硅氮化膜的覆盖处理,利用硅氮化膜覆盖处理容器的内壁和不保持产品用被处理体的保持部件的表面的工序。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
1. 一种半导体处理用的成膜装置的使用方法,其特征在于:所述成膜装置具备:能够保持真空的立式的处理容器;保持部件,其配置在所述处理容器内,以多段保持的状态保持产品用被处理体;和设置在所述处理容器的外围的加热装置,所述半导体处理用的成膜装置的使用方法用于减少金属污染,其包括:使用清洗气体对所述处理容器内的内壁和不保持产品用被处理体的所述保持部件的表面进行清洗处理的工序;接着,通过交替供给硅源气体和氮化气体而进行硅氮化膜的覆盖处理,利用所述硅氮化膜覆盖所述处理容器的内壁和不保持产品用被处理体的所述保持部件的表面的工序。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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