[发明专利]基于NandFlash存储介质的固件程序检测方法有效
| 申请号: | 200910104931.5 | 申请日: | 2009-01-09 |
| 公开(公告)号: | CN101710302A | 公开(公告)日: | 2010-05-19 |
| 发明(设计)人: | 覃敏;李志雄 | 申请(专利权)人: | 深圳市江波龙电子有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F12/02 |
| 代理公司: | 深圳市睿智专利事务所 44209 | 代理人: | 陈鸿荫 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 一种基于NandFlash存储介质的固件程序检测方法,用于在NandFlash存储器生产过程中对其固件程序检测,包括步骤:对新生产的基本NandFlash存储介质存储器以随机数进行全盘填充;在所述存储器逻辑读写范围内随机选择一个逻辑地址Addr,然后随机选择N个扇区作为操作长度;读取所选目标数据的前后M个扇区;从所述逻辑地址Addr起,写入N个扇区的随机数据;从所述逻辑地址Addr前M个扇区地址开始,连续读取所述N扇区及其前后各M扇区的数据,获取写入后当前目标设备逻辑地址上的数据;判定写入前后数据是否匹配,并将不匹配的数据文件进行保存。本发明的有益效果在于:解决测试时间长、没有针对性、无法生成测试脚本、无法复现错误、无法给研发人员分析问题所在提供有价值的参考信息等缺陷。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 nandflash 存储 介质 程序 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于NandFlash存储介质的固件程序检测方法,用于在NandFlash存储器生产过程中对其固件程序检测,其特征在于,包括步骤:A.判定待测试的基本NandFlash的存储器是否为新生产的存储器,如是,即对所述存储器以随机数进行全盘填充;如否,则执行步骤B;B.在所述存储器逻辑读写范围内随机选择一个逻辑地址Addr,然后随机选择N个扇区作为操作长度;C.读取步骤B中已选中地址Addr前面M个地址的M个扇区数据,再读取从地址Addr+N开始的M个扇区数据,即读取所选目标数据的前后M个扇区;D.从所述逻辑地址Addr起,写入N个扇区的随机数据;如果超过SCSI命令限制的一次64k的限制,则拆分后写入;E.从所述逻辑地址Addr前M个扇区地址开始,连续读取所述N扇区及其前后各M扇区的数据,获取写入后当前目标设备逻辑地址上的数据;F.将步骤C读取的数据与步骤E读取的数据进行比较,判定写入前后数据是否匹配;如是,则执行步骤B;如否,则将所述两组数据分别存入两个文件中,再执行步骤B。
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