[发明专利]基于NandFlash存储介质的固件程序检测方法

权利要求书

1.一种基于NandFlash存储介质的固件程序检测方法，用于在NandFlash存储器生产过程中对其固件程序检测，其特征在于，包括步骤：

A.判定待测试的基本NandFlash的存储器是否为新生产的存储器，如是，即对所述存储器以随机数进行全盘填充；如否，则执行步骤B；

B.在所述存储器逻辑读写范围内随机选择一个逻辑扇区地址Addr，然后随机选择N个扇区作为操作长度；

C.读取步骤B中已选中扇区地址Addr前面、从地址Addr-M到Addr扇区地址的M个扇区数据，再读取从地址Addr+N到Addr+N+M扇区地址的M个扇区数据，即读取所述扇区地址Addr到Addr+N这段目标数据的前后M个扇区；

D.从所述逻辑扇区地址Addr起，写入N个扇区的随机数据；如果超过SCSI命令限制的一次64k的限制，则拆分后写入；

E.从所述逻辑扇区地址Addr-M开始，连续读取M+N+M个扇区的数据，获取步骤D写入操作后当前目标设备逻辑扇区地址上的数据；

F.将步骤C读取的数据和步骤D写入的数据、与步骤E读取的数据进行比较，判定写入前后数据是否匹配；如是，则执行步骤B；如否，则将所述两组数据分别存入两个文件中，再执行步骤B。

2.如权利要1所述基于NandFlash作为存储介质的固件程序检测方法，其特征在于：步骤B中所述“随机选择N个扇区”，其中N可为1至255中任一整数。

3.如权利要1所述基于NandFlash作为存储介质的固件程序检测方法，其特征在于：步骤C中所述“M个扇区”中，其中M可为1至256中任一整数。