[发明专利]图形化碳纳米管薄膜或阵列的方法无效

专利信息
申请号: 200910092603.8 申请日: 2009-09-14
公开(公告)号: CN101654219A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 刘忠范;章国明;吴迪;焦丽颖 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;C01B31/02;B82B3/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 关 畅
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种图形化碳纳米管薄膜或阵列的方法。该方法,包括如下步骤:1)在生长基底上制备碳纳米管薄膜或阵列;2)在石英基底上制备钛金属层;3)将所述步骤2)制备得到的钛金属层氧化为二氧化钛层;4)在石英基底上制备铬光掩膜;5)将所述铬光掩膜置于最上层,所述二氧化钛层置于第二层,所述二氧化钛层中的二氧化钛层与向下,所述碳纳米管薄膜或阵列置于最下层,在紫外光下进行照射,照射完毕移去所述铬光掩模和所述二氧化钛层,完成所述碳纳米管薄膜或阵列的图形化。该方法能够直接在生长基底表面对碳管阵列进行图形化加工,受基底限制少,工艺简单,成本低,与现有光刻工艺相兼容,对未来的碳纳米管集成器件制备有重要的应用价值。
搜索关键词: 图形 纳米 薄膜 阵列 方法
【主权项】:
1、一种对碳纳米管薄膜或阵列进行图形化的方法,包括如下步骤:1)在生长基底上制备碳纳米管薄膜或阵列;2)在石英基底上制备钛金属层;3)将所述步骤2)制备得到的钛金属层氧化为二氧化钛层;4)在石英基底上制备铬光掩膜;5)将所述铬光掩膜置于最上层,所述二氧化钛层置于第二层,所述碳纳米管薄膜或阵列置于最下层,所述二氧化钛层中的二氧化钛与所述碳纳米管薄膜或阵列接触,用紫外光进行照射,照射完毕移去所述铬光掩模和所述二氧化钛层,完成所述碳纳米管薄膜或阵列的图形化。
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