[发明专利]基于MOCVD系统的制作铟镓砷光电探测器芯片的渐变型锌扩散方法有效
| 申请号: | 200910062357.1 | 申请日: | 2009-06-03 |
| 公开(公告)号: | CN101567407A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
| 发明(设计)人: | 吴瑞华;刘建军 | 申请(专利权)人: | 武汉华工正源光子技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C16/44 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 | 代理人: | 朱盛华 |
| 地址: | 430223湖北省武汉市东湖高*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种基于MOCVD系统的制作铟镓砷光电探测器芯片的渐变型锌扩散方法。采用以下步骤,具体步骤如下:将未形成PN结的InGaAs PIN结构的半导体晶片清洗干净,高纯氮气吹干,MOCVD反应室升温降压清洗,将半导体晶片放置反应室中,设置反应室压力,在催化反应及保护气体存在下,扩散源为二甲基锌(DMZn)与磷烷(PH3)在高温下形成的磷化锌化合物,进行扩散,扩散完毕后,关气,反应室降温并充入氮气,升压,将完成扩散的晶片从反应室中取出。因锌在InP及InGaAs材料中的扩散规律存在很大差异,故采用渐变扩散方法。采用本发明,能使InP和InGaAs层均具有较高的载流子浓度,有良好界面,具有较好均匀性、工艺重复性好,响应度高,控制精确、适于大批量生产。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 mocvd 系统 制作 铟镓砷 光电 探测器 芯片 渐变 扩散 方法 | ||
【主权项】:
1、基于MOCVD系统的制作铟镓砷光电探测器芯片的渐变型锌扩散方法,其特征在于具体步骤如下:1)将InP材料和InGaAs半导体晶片清洗干净,高纯氮气吹干,2)扩散前将MOCVD反应室升温到150℃~200℃,降压至20torr,用循环氢气对腔内进行清洗,3)将未形成PN结的InGaAs半导体晶片放置在低压MOCVD反应室石墨台上,再将反应室关上,4)将MOCVD反应室压力设置在200mbar到300torr之间,进行高温扩散,采用AsH3或PH3作为催化反应气和保护气体,扩散源材料DMZn,采用氢气作为载气带入反应室,氢气流速为7ml/Min,扩散温度为490~600℃,扩散时间为10~35分钟,DMZn与PH3在扩散温度分解并发生有机化学反应形成磷化锌的化合物,反应式如下:(CH3)2Zn+PH3→H3CZnPH2+CH4H3CZnPH2→ZnPH+CH4ZnPH→1/3(Zn3P2)+1/3(P)+H扩散分二步进行,第一步在6分钟-23分钟内采用7SCCM流量的锌源对InP材料的扩散,第二步在7分钟-12分钟内采用8SCCM流量的锌源,进行InGaAs层材料扩散,此时锌源流量渐变加大,5)扩散完毕后,关闭载气、扩散源材料气体和保护气体,将反应室降温并充入氮气,并将反应室升压;6)将完成扩散的晶片从反应室中取出。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





