[发明专利]一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法无效
申请号: | 200910054495.5 | 申请日: | 2009-07-07 |
公开(公告)号: | CN101604639A | 公开(公告)日: | 2009-12-16 |
发明(设计)人: | 周宗涛 | 申请(专利权)人: | 诺得卡(上海)微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 上海兆丰知识产权代理事务所 | 代理人: | 李征旦 |
地址: | 213022上海市闵行区浦星*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,采用与填料时相同的低粘度紫外线胶筑坝,在低温环境下进行筑坝,利用紫外线胶的物理特性,使其变为高粘度,有效地控制了边界封装尺寸,最后进行填料、固化。本发明方法由于采用同一种低粘度紫外线胶,坝与填料之间有着最佳的结合界面,采用本发明方法后,不仅能够控制边界封装尺寸,大幅度提高生产效率,降低生产成本,同时还可以避免规模生产时由于经常更换筑坝胶,而带来质量不稳定和产量损失的风险。 | ||
搜索关键词: | 一种 紫外线 筑坝 封装 芯片 模块 方法 | ||
【主权项】:
1.一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,所述芯片模块包括设于衬底上的芯片、焊点和金丝,该方法包括以下步骤:A、筑坝:用低粘度紫外线胶在被封装芯片模块四周围成一个坝,将所有焊点和金丝都围入其中,同时通过制冷装置将衬底的温度维持在0~15℃;B、填料:用步骤A中的低粘度紫外线胶将围坝内的芯片、焊点和金丝全部包封于一个模块中,同时衬底的温度恢复为室温或室温以上至60℃;C、紫外线固化:将步骤B中填料好的芯片模块在紫外线照射下固化。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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