[发明专利]一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法无效
申请号: | 200910054495.5 | 申请日: | 2009-07-07 |
公开(公告)号: | CN101604639A | 公开(公告)日: | 2009-12-16 |
发明(设计)人: | 周宗涛 | 申请(专利权)人: | 诺得卡(上海)微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 上海兆丰知识产权代理事务所 | 代理人: | 李征旦 |
地址: | 213022上海市闵行区浦星*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 紫外线 筑坝 封装 芯片 模块 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种芯片模块封装技术,尤其涉及一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法。
背景技术
在智能卡芯片模块封装行业,由于紫外线胶封装模块的可靠,快速和封装精度高,所以通常都采用紫外线胶封装集成电路芯片。封装微处理器大芯片时,由于芯片面积较大,而且对封装的尺寸和厚度的精度要求很高。所以必须采用有效的方法来控制模块封装的边界尺寸。几乎在智能卡模块发展的初期,就有人采用将很薄的金属环固定住封装边界,以阻止紫外线胶的不规则的流动。由于该工艺的成本很高,灵活性差,很快就被淘汰。继而被印刷一圈聚合物所取代。但仍然很快被精确,可控并灵活的筑坝工艺所取代。
目前通常采用筑坝的方法,就是首先在芯片微模块四周,根据技术规范,采用高粘度紫外线胶精确地筑一个方形,圆形或其它形状的环形坝,这样就确定了封装的边界尺寸。采用高粘度(一般为180,000mPa·s)紫外线胶,目的是防止紫外线胶在制造过程中较快改变形状,并形成一个对以后低粘度的紫外线填充封装起阻挡作用,我们也称之为“筑坝”。然后再用低粘度(一般为4,000-6,000mPa·s)的紫外线胶,在坝内芯片填满的同时,将芯片和金丝完全包封住.这样就完成了整个筑坝工艺。筑坝工艺可以比较精确地界定封装尺寸,但也有明显的缺点:经常要更换筑坝胶,更换筑坝胶时,会带来气泡和不稳定。更换前后也浪费很多的胶水。而且,2种不同的胶水控制和使用麻烦,成本也高,生产效率低下。
发明内容
本发明的目的,就是为了解决上述问题而提供一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,解决了技术上的瓶颈,采用同一种低粘度的紫外线胶,既用作筑坝,也用作填料,降低了成本,提高了生产效率。
本发明是通过以下技术方案实现的:
一种新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,所述芯片模块包括设于衬底上的芯片、焊点和金丝,该方法包括以下步骤:
A、筑坝:用低粘度紫外线胶在被封装芯片模块四周围成一个坝,将所有焊点和金丝都围入其中,同时通过制冷装置将衬底的温度维持在0~15℃;
B、填料:用步骤A中的低粘度紫外线胶将围坝内的芯片、焊点和金丝全部包封于一个模块中,同时衬底的温度恢复为室温或室温以上至60℃;
C、紫外线固化:将步骤B中填料好的芯片模块在紫外线照射下固化。
上述新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,其中,步骤A中所述的紫外线胶为紫外线固化环氧树脂。
上述新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,其中,步骤A中所述的制冷装置为半导体致冷器。
上述新的紫外线胶筑坝封装芯片模块的方法,其中,步骤A中所述低粘度紫外线胶的粘度为3,000~9,000mPa·s。
本发明方法由于采用同一种低粘度紫外线胶,坝与填料之间有着最佳的结合界面,采用本发明方法后,不仅能够控制边界封装尺寸,大幅度提高生产效率,降低生产成本,同时还可以避免规模生产时由于经常更换筑坝胶,而带来质量不稳定和产量损失的风险。
附图说明
下面通过具体实施例并结合附图对本发明的技术方案进行说明:
图1是本发明方法流程图;
图2是被封装的芯片模块的结构示意图;
图3是图1中A-A方向示意图。
具体实施方式
图1为本发明方法的流程图,如图2和图3所示,本发明方法用于封装智能卡用芯片模块,包括以下步骤:
其中,所述芯片模块包括设于衬底4上的芯片1、焊点2和金丝3。
步骤A筑坝:如图2和图3所示,用低粘度紫外线固化环氧树脂(粘度为3,000~9,000mPa·s)在被封装芯片模块的四周围成一个方形坝5,将所有焊点2和金丝3都围入其中,此步骤中,通过半导体致冷器将衬底4的温度维持在0~15℃,利用紫外线固化环氧树脂的物理特性,即紫外线固化环氧树脂的粘度与温度成反比,在低温情况下,低粘度可变成适当的高粘度,可有效地控制住低粘度环氧树脂的流动性和封装边界的尺寸;
步骤B填料:衬底4的温度恢复为室温或加热至室温以上至60℃之间,同时用步骤A中的低粘度紫外线固化环氧树脂涂布在坝5内,将坝5内的芯片1、焊点2和金丝3包封于一个模块中,形成填料6;
步骤C紫外线固化:将步骤B中填料好的芯片模块移入紫外线固化炉中完成最后的固化。
采用该方法后,不仅能够控制边界封装尺寸,大幅度提高生产效率,降低生产成本,同时还可以避免规模生产时由于经常更换筑坝胶,而带来质量不稳定和产量损失的风险。因此,该方法同时给大规模生产带来极大的灵活性和方便。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造