[发明专利]一种电解质初晶温度测量方法

摘要

本发明提供一种电解质初晶温度测量方法，能够对电解质试料样品初晶点温度进行快速检测，准确地测定电解质的初晶温度值，通过对冷却过程中熔融电解质进行测量，并进行数据采集和分析，测得电解质的初晶温度和测绘相应曲线，不仅达到了提高生产效率，降低能耗，稳定生产操作，将降低生产成本的目的，而且操控简单，更容易设置、使用和调整，测量准确，自动化程度高，大大减轻了系统维护，提高了生产工艺控制。

主权项

一种电解质初晶温度测量方法，其特征在于：所述的测量方法包括如下步骤：1)设备上电，启动电炉开启按钮，系统自动升温至设定温度T；2)输入参数样品编号；3)判断是否启动系统按钮；4)当没有启动系统按钮时，系统处于等待状态，然后判断启动时间是否超过N秒 当超过N秒时，打开炉膛口(40)的防护罩，下降炉盖(41)；5)当启动系统按钮时，自动提升炉盖(41)；6)然后，防护罩(50)自动封闭炉炉膛口；7)打开检测舱(2)的舱门(20)并计时；8)操作人员在炉盖(41)接头处放置装填了电解质的电解质容器(8)；9)M秒钟后，热电偶(70)自动插入电解质容器(8)内，关闭检测舱(2)的舱门(20)；10)接着，系统自动打开炉膛口(40)的隔热防护罩(50)，热电偶(70)、电解质容器(8)随同炉盖(41)一并下降，封闭炉膛口(40)；11)加热炉膛(4)，电解质容器(8)升温K分钟；12)时间到，热电偶(70)、电解质容器(8)、炉盖(41)自动上升至上位极限点；13)然后，自动关闭隔热防护罩(50)，封闭炉膛口(40)，检测舱(2)的风扇(21)开始抽风降温；14)操控中心(3)绘制降温曲线，自动扑捉锁定初晶温度，并将数据存入数据库；15)接着，自动提升热电偶(70)，打开检测舱(2)的舱门(20)；16)然后，操作人员用专用工具取走电解质容器(8)；17)进入下一次的测试等待状态。