[发明专利]阻变氧化物材料的Co3O4薄膜和制备方法及其应用无效

专利信息
申请号: 200910025901.5 申请日: 2009-03-13
公开(公告)号: CN101498042A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 殷江;高旭;季剑锋;夏奕东;刘治国 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: C30B29/16 分类号: C30B29/16;C30B28/14;H01L21/363;C23C14/28;C23C14/08
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 楼高潮
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种阻变氧化物材料的氧化钴薄膜,该薄膜为多晶态,其化学式为Co3O4,薄膜厚度为200nm,其制备方法是:(1)CoOx(0<x<4/3)陶瓷靶材的制备;(2)将CoOx靶材固定在靶台上,衬底固定在衬底台上,均置于生长室中;(3)用机械泵和分子泵将生长室抽真空,关闭分子泵后,打开进气阀,向生长室通入氧气至氧气压20Pa;(4)用激光器的激光束通过透镜聚焦在CoOx靶材上;(5)用电阻炉加热衬底台,使衬底温度达660℃;(6)按单脉冲能量,确定沉积时间,在衬底上沉积厚度为200nm的Co3O4薄膜。用该薄膜制备非易失性阻变存储记忆元件,该元件的基本构型为三明治结构,即将一层多晶态氧化物Co3O4薄膜沉积在下电极Pt电极膜上,用一根Pt探针作为上电极。构成一个记忆单元。
搜索关键词: 氧化物 材料 co sub 薄膜 制备 方法 及其 应用
【主权项】:
1. 一种阻变氧化物材料的氧化钴薄膜,其特征在于该薄膜为多晶态,其化学式为Co3O4,薄膜厚度为200nm。
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