[发明专利]阻变氧化物材料的Co3O4薄膜和制备方法及其应用无效

专利信息
申请号: 200910025901.5 申请日: 2009-03-13
公开(公告)号: CN101498042A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 殷江;高旭;季剑锋;夏奕东;刘治国 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: C30B29/16 分类号: C30B29/16;C30B28/14;H01L21/363;C23C14/28;C23C14/08
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 楼高潮
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 氧化物 材料 co sub 薄膜 制备 方法 及其 应用
【权利要求书】:

1.一种制备阻变氧化物材料的氧化钴薄膜的脉冲激光沉积方法,其制备步骤如下:

a)CoOx0<x<4/3陶瓷靶材的制备:将购买的四氧化三钴粉末经研钵研磨后冷压成圆柱形薄片,并在箱式电阻炉中烧结,得到致密的CoOx陶瓷靶材;

b)将CoOx靶材(4)固定在脉冲激光沉积制膜系统的靶台(5)上,衬底(1)固定在衬底台(8)上,它们都放置在脉冲激光沉积制膜系统的生长室(6)中;

c)依次用机械泵和分子泵的按口阀(7)将生长室(6)内真空抽到8.0×10-4Pa,关闭分子泵后,打开进气阀(9)向生长室内通入氧气,通过调节进气阀调节生长室内氧气压至20Pa;

d)启动准分子激光器(2),使激光束通过聚焦透镜(3)聚焦在CoOx靶材(4)上;

e)用电阻炉加热衬底台(8),使衬底温度达到设定温度660℃;

f)根据该薄膜在能量密度为2.0mJ/cm2、频率为5Hz的生长条件下生长速率为0.25nm/S,确定沉积时间,在衬底(1)上沉积200nm厚的氧化钴薄膜,该薄膜为多晶态,其化学式为Co3O4

2.根据权利要求1所述的制备阻变氧化物材料的氧化钴薄膜的脉冲激光沉积方法,其特征在于在步骤a)中冷压的压力为12Mpa,压成直径22mm高4mm的圆柱形薄片,在箱式电阻炉中900-1200℃下烧结。

3.如权利要求1所述的制备阻变氧化物材料的氧化钴薄膜的脉冲激光沉积方法,其特征在于在步骤b)中所述衬底的材料为Pt/Ti/SiO2/Si(111)。

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