[发明专利]一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法及测试装置有效
| 申请号： | 200910023160.7 | 申请日： | 2009-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN101592586A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 赵翔;郭涛 | 申请（专利权）人： | 彩虹集团电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 71202*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及真空紫外激发领域，尤其涉及等离子显示屏荧光粉抗真空紫外光性能的测试方法，步骤如下1)将荧光粉压在带槽玻璃片上，放置在玻璃放电管中；2)金属电极贴在玻璃放电管外壁上；3)对玻璃放电管抽真空，充入惰性气体后密封；4)将高频交流电压加在金属电极上，调整电压激发惰性气体放电，激发荧光粉发光；5)在玻璃放电管内老化。测试装置，包括，玻璃放电管，金属电极，高频高压电源，在带槽玻璃片的槽中设置有荧光粉，放置在玻璃放电管中，金属电极设置在玻璃放电管的外壁上，电极连接高频高压电源，在玻璃放电管的两端部分别设置有进气管道与排气管道。本发明可以简单快捷地完成对PDP荧光粉的抗真空紫外光劣化性能的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光粉 真空 紫外 化性 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置，包括，玻璃放电管(1)，一对金属电极(6、7)，高频高压电源(8)，其特征在于：在带槽玻璃片(3)的槽中设置有荧光粉(4)，带槽玻璃片(3)上覆盖着玻璃片(5)，覆盖着玻璃片(5)的带槽玻璃片(2)及其上的荧光粉(4)设置在玻璃放电管(1)中，一对金属电极(6、7)相对应设置在玻璃放电管(1)的外壁上，电极(6)的一端连接高频高压电源(8)的一端，电极(7)的一端连接高频高压电源(8)的另一端，在玻璃放电管(1)的两端部分别设置有进气管道(9)与排气管道(10)。
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