[发明专利]一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法及测试装置

权利要求书

1.一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置，包括，玻璃放 电管(1)，一对金属电极(6、7)，高频高压电源(8)，其特征在于： 在带槽玻璃片(3)的槽中设置有荧光粉(4)，带槽玻璃片(3)上覆 盖着玻璃片(5)，覆盖着玻璃片(5)的带槽玻璃片(3)及其上的荧 光粉(4)设置在玻璃放电管(1)中，一对金属电极(6、7)相对应 设置在玻璃放电管(1)的外壁上，第一电极(6)的一端连接高频高 压电源(8)的一端，第二电极(7)的一端连接高频高压电源(8) 的另一端，在玻璃放电管(1)的两端部分分别设置有进气管道(9) 与排气管道(10)。

2.一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法，其特征在于： 包括如下步骤：

1)将荧光粉压制在带槽玻璃片上，在带槽玻璃片上盖上另一块 玻璃片，然后将覆盖着另一块玻璃片的带槽玻璃片及其上的荧光粉放 置在玻璃放电管中；

2)将一对金属电极贴在玻璃放电管外壁相对应的位置上，并加 以固定；

3)用真空泵对玻璃放电管进行抽真空排气作业，当玻璃放电管 内的真空度达到10^-5Pa的压力后，往玻璃放电管内充入惰性混合气体 到100Torr后，密封玻璃放电管；

4)将4-15KV的高频交流电压加在一对金属电极上，调整电压为 1-3KV，继续激发惰性气体放电，电离出147nm和172nm紫外光，激 发荧光粉发光；

5)在玻璃放电管内老化24-72小时后，将荧光粉取出放到真空 紫外光谱仪上老化后进行亮度和光谱的数据测试，将具体测试数据与 老化前的亮度和光谱的测试数据进行对比，评价荧光粉的真空紫外劣 化性能。

3.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方 法，其特征在于：所述的玻璃放电管径在3-4cm，具体尺寸根据带槽 玻璃片的尺寸大小来决定。

4.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方 法，其特征在于：所述的电极是铜电极，其宽度至少在1cm，两个电 极之间的距离根据玻璃放电管的直径大小来调节，电极长度根据被测 试样品在玻璃放电管中的位置来确定。

5.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方 法，其特征在于：所述步骤3)中的玻璃放电管的两端可以封闭，则 玻璃放电管中的真空度达到10^-5Pa的压力。

6.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方 法，其特征在于：所述步骤3)中的玻璃放电管的真空度用惰性气体 的压力来衡量，至少在100Torr。