[发明专利]一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片无效
| 申请号： | 200910012405.6 | 申请日： | 2009-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN101586075A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 秦建华;张敏;林炳承;李艳峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | C12M1/34 | 分类号： | C12M1/34;C12Q1/02 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 | 代理人： | 张 晨 |
| 地址： | 116023*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片，该芯片由2～99个相同的细胞培养结构单元构成，这些结构单元之间通过一个公共细胞进样池相连接；每个结构单元含有柱形结构、挡板结构和废液池。本发明创造性地将细胞培养、缺损区域形成、损伤修复过程启动等功能单元集成于一块芯片上，采用柱形结构对细胞的阻挡作用以形成形状、大小均相同的细胞缺损区域。与传统的划痕法相比，简化了人为操作，能提供完全相同的初始缺损区域，减少了细胞用量，通量高，且损伤修复过程易于定位拍照。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 细胞 损伤 修复 能力 方法 及其 专用 芯片 | ||
【主权项】：
1、一种集成化微流控芯片，其特征在于：该芯片由2～99个相同的细胞培养结构单元构成，这些结构单元之间通过一个公共细胞进样池相连接；每个结构单元含有2～99个柱形结构、2～99个挡板结构和一个废液池。
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