[发明专利]单板的电路测试方法和单板有效
| 申请号: | 200910006043.X | 申请日: | 2009-01-22 |
| 公开(公告)号: | CN101477173A | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
| 发明(设计)人: | 刘海新;叶小龙 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 逯长明 |
| 地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明提供单板的电路测试方法和单板,应用于芯片测试技术。在本发明的单板进行电路测试时,扣板扩展模块将扣板在位或不在位的状态信号输出到选择模块的控制选择端,来控制选择模块进行电路测试链的选择,本发明中在扣板扩展模块中的扣板模块不在位时,可以形成电路测试链,当在位时也可以形成电路测试链,简化了现有技术中对电子器件进行测试的过程中单板和扣板扩展模块需要进行单独成链测试的流程;且本发明的方案比较简单,不需要对底板和扣板做很大的改变即可实现。 | ||
| 搜索关键词: | 单板 电路 测试 方法 | ||
【主权项】:
1、一种单板,其特征在于,所述单板包括:选择模块,所述选择模块包括至少一个控制选择端;扣板扩展模块,所述扣板扩展模块包括至少一个指示状态的状态控制端;所述选择模块与所述单板上的电子器件串联连接成第一串联链;所述扣板扩展模块的状态控制端和所述选择模块的控制选择端相连接;所述选择模块,用于在所述控制选择端接收到所述扣板扩展模块的状态控制端输出的信号指示所述扣板扩展模块的状态为不在位时,使所述第一串联链处于连通状态。
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