[发明专利]光拾取装置的检查方法以及光拾取装置无效
| 申请号： | 200910000462.2 | 申请日： | 2009-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN101488350A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | 中谷守雄;鹫见聪;日比野清司 | 申请（专利权）人： | 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/22 | 分类号： | G11B7/22 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇;陈立航 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光拾取装置的检查方法以及光拾取装置。以往存在如下问题：无法利用固定的方法评价光拾取装置，难以进行质量管理，并且性能评价费时间。利用使用记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。由此，能够根据再现信号来检查光拾取装置，与制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。 | ||
| 搜索关键词： | 拾取 装置 检查 方法 以及 | ||
【主权项】：
1. 一种光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用使用了记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。
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