[发明专利]光拾取装置的检查方法以及光拾取装置

权利要求书

1.一种光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用使用了记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

检查具备NA为0.6以上的物镜的光拾取装置。

3.根据权利要求1或2所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用上述测试光盘的轨道间距大致在0.68μm以下的区域的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。

4.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用基于波长450nm以下的光学系统的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。

5.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记录层为双层的第二测试光盘、用于验证致动器的动作的测试光盘的至少三种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。

6.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记录层为双层的第二测试光盘、作为用于验证上述致动器的动作的测试光盘的第三测试光盘、第四测试光盘、第五测试光盘的至少五种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，所述第三测试光盘是产生盘面抖动评价用的盘面抖动的形态的测试光盘，所述第四测试光盘是具有倾斜评价用的变形的形态的测试光盘，所述第五测试光盘是具有偏心评价用的偏心的测试光盘。

7.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第三测试光盘内形成有上述盘面抖动大致为0.4mmp-p以上的区域。

8.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第四测试光盘内形成有倾斜大致为0.8°以上的区域。

9.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第五测试光盘内存在形成偏心大致为100μmp-p的区域。

10.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

增加使用了第六测试光盘的再现信号评价，利用使用了至少六种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，所述第六测试光盘是具有产生再现错误的缺陷区域的测试光盘。

11.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

上述第三测试光盘的盘面抖动形成为在半径57mm附近大致成为0.4mmp-p。

12.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第六测试光盘内形成有大致200μm的黑色斑点。

13.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用缺陷区域内的PI错误评价来进行上述第六测试光盘的再现信号评价。

14.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

使用上述六种测试光盘之中的至少一张，利用光拾取装置的再现信号的PRSNR的评价结果对光拾取装置进行评价。

15.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用FSM调制方式对上述第六测试光盘进行调制。

16.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

以OTP形成上述第二测试光盘的螺旋方向。

17.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

上述第二测试光盘的中间层的厚度构成为14μm～25μm。

18.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

使用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，利用在同一测试光盘内准备的轨道间距不同的区域的再现信号评价来检查光拾取装置。