[发明专利]辐射分析装置和辐射分析方法无效
| 申请号： | 200880121933.9 | 申请日： | 2008-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN101903208A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | A·帕克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | B60Q1/14 | 分类号： | B60Q1/14;G01J3/36;G01J3/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李少丹;李家麟 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种辐射分析装置，其具有一个第一辐射探测器(15)、一个第二辐射探测器(16)和一个分析装置(17)，其中该分析装置(17)设置用于根据该第一辐射探测器(15)的一个第一信号和该第二辐射探测器(16)的一个第二信号来为照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)输出一个分析信号。为了识别雾并根据雾来控制汽车照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)，该第一辐射探测器(15)对高频电磁波敏感，而对低频电磁波不敏感。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
辐射分析装置，具有第一辐射探测器(15)、第二辐射探测器(16)和分析装置(17)，其中该分析装置(12)被设置用于根据该第一辐射探测器(15)的第一信号和该第二辐射探测器(16)的第二信号来为照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)输出分析信号，其特征在于，该第一辐射探测器(15)对高频电磁波敏感，而对低频电磁波不敏感。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗伯特·博世有限公司，未经罗伯特·博世有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880121933.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
