[发明专利]辐射分析装置和辐射分析方法无效
| 申请号： | 200880121933.9 | 申请日： | 2008-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN101903208A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | A·帕克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | B60Q1/14 | 分类号： | B60Q1/14;G01J3/36;G01J3/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李少丹;李家麟 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 辐射 分析 装置 方法 | ||
1.辐射分析装置，具有第一辐射探测器(15)、第二辐射探测器(16)和分析装置(17)，其中该分析装置(12)被设置用于根据该第一辐射探测器(15)的第一信号和该第二辐射探测器(16)的第二信号来为照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)输出分析信号，其特征在于，该第一辐射探测器(15)对高频电磁波敏感，而对低频电磁波不敏感。
2.根据权利要求1所述的辐射分析装置，其特征在于，该第二辐射探测器(16)对高频电磁波不敏感，而对低频电磁波敏感。
3.根据权利要求1或2所述的辐射分析装置，其特征在于，设置有第三辐射探测器(13)，并且该分析装置(12)被设置用于根据第三信号来输出该分析信号。
4.根据权利要求3所述的辐射分析装置，其特征在于，该第三辐射探测器(13)对高频电磁波敏感，而对低频电磁波不敏感。
5.根据前述权利要求之一所述的辐射分析装置，其特征在于，设置有第四辐射探测器(14)，并且该分析装置(17)被设置用于根据该第四辐射探测器的第四信号来输出该分析信号。
6.根据权利要求1或2所述的辐射分析装置，其特征在于，该第四辐射探测器(14)对高频电磁波不敏感，而对低频电磁波敏感。
7.辐射分析方法，具有以下的步骤：
-检测第一辐射探测器(15)的第一信号；
-检测第二辐射探测器(16)的第二信号；
-根据该第一信号和该第二信号来输出分析信号，其特征在于，该第一信号与高频电磁波强相关，而与低频电磁波弱相关。
8.根据权利要求7所述的用于照明装置的辐射分析方法，其特征在于，该第二信号与高频电磁波弱相关，而与电磁波强相关。
9.根据权利要求7或8所述的辐射分析方法，其特征在于，检测第三辐射探测器(13)的第三信号，并且该分析装置(17)根据该第三信号来输出该分析信号，并且该第三信号与高频电磁波强相关，而与低频电磁波弱相关。
10.根据权利要求6至9之一所述的辐射分析方法，其特征在于，检测第四信号，并且该分析装置(12)根据该第四信号来输出该分析信号，并且该第四信号与高频电磁波弱相关，而与低频电磁波强相关。
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