[发明专利]用于表征空气流中荷电尘埃颗粒的尺寸分布的装置有效

专利信息
申请号: 200880120552.9 申请日: 2008-12-08
公开(公告)号: CN101896808A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: J·马拉 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 谢建云;刘鹏
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 用于表征空气流(50)中荷电颗粒的尺寸分布的装置(1,2),包含:颗粒荷电单元(60),置于颗粒荷电单元(60)的下游的第一测量部分(10)和第二测量部分(20)的平行布置,以及数据评价单元(40),其中第一测量部分(10)包含:第一颗粒检测单元(11),其布置成沉淀基本上所有进入的荷电颗粒,并产生第一输出信号(41),该第二测量部分(20)包含:第二颗粒检测单元(21),其布置成沉淀至少部分的所有进入的荷电颗粒,并产生第二输出信号(42),以及第一颗粒沉淀单元(22),其布置成部分减小具有大于第一颗粒尺寸限制的尺寸的荷电颗粒的浓度,该数据评价单元(40)用于基于第一和第二输出信号计算颗粒数目浓度和平均直径。
搜索关键词: 用于 表征 气流 中荷电 尘埃 颗粒 尺寸 分布 装置
【主权项】:
用于表征空气流(50)中荷电尘埃颗粒的尺寸分布的装置(1,2),包含:‑颗粒荷电单元(60),其布置成通过使进入该装置(1,2)的尘埃颗粒荷电来创建荷电尘埃颗粒的尺寸分布,‑第一测量部分(10)和第二测量部分(20)的平行布置,其置于该颗粒荷电单元(60)的下游,以及‑数据评价单元(40),其中该第一测量部分(10)包含:‑第一颗粒检测单元(11),其布置成沉淀基本上所有进入的荷电尘埃颗粒,并产生与荷电尘埃颗粒沉淀在该第一颗粒检测单元(11)内部对应的第一输出信号(41),该第二测量部分(20)包含:‑第二颗粒检测单元(21),其布置成沉淀至少部分的所有进入的荷电尘埃颗粒,并产生与荷电尘埃颗粒沉淀在该第二颗粒检测单元(21)内部对应的第二输出信号(42),以及‑第一颗粒沉淀单元(22),其布置成部分减小具有大于第一颗粒尺寸限制的尺寸的荷电尘埃颗粒的浓度,该数据评价单元(40)布置成基于该第一输出信号(41)和该第二输出信号(42),计算具有大于该第一颗粒尺寸限制的尺寸的尘埃颗粒的颗粒数目浓度和平均直径。
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